101. Surface analysis by electron spectroscopy: measurement and interpretation
پدیدآورنده : Smith, Graham C.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع : ، Surfaces )Technology(-- Analysis,، Surface chemistry,، Auger effect,، X-ray Spectroscopy
رده :
TA
418
.
7
.
S57
1994
102. Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS /
پدیدآورنده : D. Briggs.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع : Polymers-- Surfaces-- Analysis.,Secondary ion mass spectrometry.,X-ray spectroscopy.,Polymères-- Surfaces-- Analyse.,Polymers-- Surfaces-- Analysis.,Secondary ion mass spectrometry.,Spectrométrie de masse des ions secondaires.,Spectroscopie des rayons X.,Spectroscopie photoélectrique.,X-ray spectroscopy.
رده :
QD381
.
9
.
S97
B75
1998
103. Symposium on X-Ray and Electron Probe Analysis; presented at the sixty-sixth annual meeting, American Society for Testing and Materials, Atlantic City, N.J., June 27, 1963
پدیدآورنده :
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Congresses ، X-ray spectroscopy,Congresses ، Probes )Electronic instruments(
رده :
QD
95
.
S95
1964
104. Tabellen zur Rontgen-Emissions- und Absorptions-Analyse
پدیدآورنده : Sagel, Konrad.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع : ، X-ray spectroscopy-- Tables
رده :
QC
482
.
S2
105. The solid state: X-ray spectroscopy
پدیدآورنده : Jacob, L.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع : ، Energy-band theory of solids,، X-ray spectroscopy,، Spectrum analysis
رده :
QC
176
.
8
.
E4
.
J32
1974
106. Thin Film Analysis by X-Ray Scattering
پدیدآورنده : / Mario Birkholz
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Thin Films,X-ray Spectroscopy
رده :
QC176
.
83
.
B57
2006
107. Thin film analysis by X-ray scattering
پدیدآورنده : / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه ایلام (ایلام)
موضوع : Thin films,X-ray spectroscopy
رده :
QC176
.
83
.
B57
2006
108. Thin film analysis by X-ray scattering
پدیدآورنده : / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Thin films,X-ray spectroscopy
رده :
QC176
.
83
.
B455
2006
109. Thin film analysis by X-ray scattering
پدیدآورنده : / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Thin films,X-ray spectroscopy
رده :
QC176
.
83
.
B57
2006
110. Thin film analysis by X-ray scattering
پدیدآورنده : Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel
موضوع : Thin films,X-ray spectroscopy
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
111. Thin film analysis by X-ray scattering
پدیدآورنده : Birkholz, Mario
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع : ، Thin films,، X-ray spectroscopy
رده :
QC
176
.
83
.
B57
2006
112. Thin film analysis by X-ray scattering
پدیدآورنده : Birkholz, Mario
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع : ، Thin films,، X-ray spectroscopy
رده :
QC
176
.
83
.
B57
2006
113. Total- Reflection X- Ray Fluorescence and Related Methods
پدیدآورنده : \ Reinhold Klockenkamper, Alex von Bohlen, Leibniz-Institut fur Analytische Wissenschaften, ISAS e.V., Dortmund and Berlin, Germany.
کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع : Fluorescence spectroscopy,طیف‌نمایی فلوئورسانی,a04,a04,X-ray spectroscopy,طیف‌نمایی اشعه ایکس
رده :
QD96
.
X2
K58
2014
114. Total-reflection X-ray fluorescence analysis and related methods
پدیدآورنده :
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع : Fluorescence spectroscopy.,X-ray spectroscopy.
رده :
QD96
.
X2
115. Total reflection X-ray fluorescence spectrometry
پدیدآورنده : Klockenkamper, R.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع : ، X-ray spectroscopy,، Fluorescence spectroscopy
رده :
QD
96
.
X2
.
K58
1996
116. Ultraviolet and x-ray spectroscopy of the solar atmosphere /
پدیدآورنده : Kenneth J.H. Phillips, Uri Feldman, Enrico Landi.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع : Spectrum, Solar.,Ultraviolet spectroscopy.,X-ray spectroscopy.,Röntgenspektroskopie.,SOLAR SPECTRA.,Sonnenatmosphäre.,Spectrum, Solar.,Ultraviolet spectroscopy.,ULTRAVIOLET SPECTROSCOPY.,Ultraviolettspektroskopie.,X RAY SPECTROSCOPY.,X-ray spectroscopy.
رده :
QC455
.
P55
2008
117. Unoccupied electronic states
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع : Photoelectron spectroscopy,Solids- Spectra,Photoemission,Electronic structure,X-ray absorption near edge structure,Electron energy loss spectroscopy
118. Worked examples in X-ray analysis
پدیدآورنده : Jenkins, Ron, 2391-
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه الزهراء (س) (تهران)
موضوع : ، X-ray spectroscopy- Problems, exercises, etc
رده :
QC
482
.
S6
J48
119. Worked examples in X-ray analysis
پدیدآورنده : Jenkins, Ron
کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : Problems, exercises, etc ، X-ray spectroscopy
رده :
QC
482
.
S6
J48
1970
